W3-lab/W3-EDA mini · 良率判据引擎
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仿真之前,先裁决合法性

存储芯片的良率,可以不是跑完一千万次蒙特卡洛才知道的数,而是设计阶段就能判定、还能反解的边界。 判定由确定性内核给出,大模型只负责把结果讲成人话——数字不是它算的。

设计工作点
同一工艺下,CR 越大单元越稳、面积越大。
k 就是"要几个 sigma"。数字越大,要求越严。
沟道长度 L—
阵列规模1M 单元
工艺域—
内核—
试用版只开放已标定实测点:拖动会吸附到最近的实测工作点,页面上每个数字都来自实测, 没有估算值。完整参数空间需接入本地引擎。

裕度随单元尺寸的变化