仿真之前,先裁决合法性
存储芯片的良率,可以不是跑完一千万次蒙特卡洛才知道的数,而是设计阶段就能判定、还能反解的边界。 判定由确定性内核给出,大模型只负责把结果讲成人话——数字不是它算的。
设计工作点
同一工艺下,CR 越大单元越稳、面积越大。
k 就是"要几个 sigma"。数字越大,要求越严。
沟道长度 L—
阵列规模1M 单元
工艺域—
内核—
试用版只开放已标定实测点:拖动会吸附到最近的实测工作点,页面上每个数字都来自实测,
没有估算值。完整参数空间需接入本地引擎。
裕度随单元尺寸的变化
判据解读 · 追问